半导体分析解决方案 

半导体分析

如果您需要测量半导体制造中所用化学品中的杂质,或者测试硅片或最终元件中的污染物,安捷伦科技能为您提供最灵敏、最可靠和最稳健的分析方法满足您的需求。安捷伦的分析仪器为整个半导体行业中各种样品的痕量元素分析提供最高的性能,这些样品包括表面金属萃取(SME)的硅片、太阳能光伏硅片、高纯制程化学品、超纯水、有机试剂和光阻材料。此外,安捷伦科技为您提供世界级的应用和服务支持,确保您保持最高的工作效率。

Agilent 7700s ICP-MS

专为高纯半导体材料行业的超痕量检测应用要求而设计

7700s ICP-MS 设计用于半导体行业中所用的高纯度材料的超痕量元素分析。7700s 保留和升级了无与伦比的 STS 冷等离子体能力,为高纯材料(如超纯水)中极易电离的目标元素的测定提供了行业中最先进的性能,并且 STS 冷等离子体仍是业内唯一的,可以用同一条件同时分析半导体行业要求的多种目标元素的技术。

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